Mesure 2D, annotation et Graticules
Application de mesure intuitive et brevetée en 2D à l'écran. Dessinez simplement des mesures, des formes et ajoutez des annotations sur une image statique ou en direct et enregistrez directement dans la mémoire interne ou les options de stockage externe. Les caractéristiques comprennent : point à point, diamètre, angle, grille X-Y ajustable, formes et annotations pour accommoder une multitude de spécifications d'échantillons.
La création de réticule permet d'analyser des échantillons par rapport à des modèles numériques à l'écran avec des limites de tolérance définies. Il permet également une analyse rapide des défauts. Cela améliore l'efficacité de l'inspection de grands volumes d'échantillons.

Importation DXF
Importez une série de fichiers DXF pour créer des graticules permettant de comparer les superpositions avec les pièces. Les fichiers DXF importés peuvent être édités et annotés sur le système Omni.
Cela réduit considérablement le temps nécessaire à la création des graticules et augmente l'efficacité du flux de travail.

Comparateur d'images
Cette application permet à l'utilisateur de créer une superposition d'image d'une image de référence pour identifier les défauts en superposant et en faisant clignoter l'image d'échantillon en direct contre l'image de référence enregistrée.
Permet d'identifier rapidement les différences entre l'échantillon de base et les échantillons d'essai.
Omni Image Comparator Overlay améliore la précision et la facilité d'utilisation en plus d'améliorer la vitesse du flux de travail.